(FEI) THERMO FISHER SCIENTIFIC QUATTRO S ESEM TARAMALI ELEKTRON MİKROSKOBU

Mikro ve nano yapıların görüntülenmesi, Ar-Ge çalışmalarının vazgeçilmez bir parçasıdır. Elektron Mikroskopi Laboratuvarımızda bulunan FEG (Alan Emisyon Tabancalı) Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM) ile, malzemelerin mikro ve nano boyutta görüntülenmesi, EDS (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy) ile elemental kompozisyonları belirlenebilmektedir.

Laboratuvarımızda bulunan FEG-SEM sistemi ile numuneye bağlı olarak 1.0 nm çözünürlüğe kadar yüksek çözünürlüklerde görüntü alınabilmekte ve 1.000.000x büyütme oranına çıkılabilmektedir.

Sistemin sahip olduğu Navigasyon kamerası sayesinde ‘’numune tablasının ve stupların tamamının, numunelerle birlikte renkli görüntüsü’’ alınabilmektedir. Bu sayede araştırmacının ilgilendiği yerin belirlenmesi çok kısa zaman almakta ve hızlı sonuçlar verilebilmektedir.

Sistemimizde bulunan MAPS Correlation özelliği ile farklı mikroskoplardan (floresan, ışık mikroskobu, konfokal mikroskop, IR & Raman mikroskop vb.) gelen görüntü ve numuneler ile korelasyon imkanı sunulmaktadır. Bu sayede farklı tekniklerle işaretlenip belirlenmiş yerlerin SE, BSE dedektörleri ile de yüksek büyütme ve çözünürlüklerde görüntülenmesi mümkün olmaktadır.

Farklı Analiz Modları:

Yüksek Vakum Modu: İletken örnekler, toz örnekler, ince filmler, kaplanmış yalıtkan örnekler.

  • 1.0 nm@ 30 kV çözünürlükte görüntü alınabilmektedir.

Düşük Vakum Modu: Kaplama yapılmamış yalıtkan örnekler, polimerler, cam örnekler vs.

  • 1.3nm@ 30 kV çözünürlükte görüntü alınabilmektedir.

ESEM: Biyolojik örnekler, nem ihtiva eden örnekler.

  • 1.3nm@30kV çözünürlükte görüntü alınabilmektedir.

(FEI) THERMO FISHER SCIENTIFIC TALOS L120C (TEM) GEÇİRİMLİ ELEKTRON MİKROSKOBU

Laboratuvarımızda kurulu 120kV’lık (TEM)Geçirimli Elektron Mikroskobu ile ultra mikrotom sisteminde hazırlanmış ince doku kesitleri, nano partiküller, grafen vb. numuneler çalışılabilmektedir. C-TWIN Lens teknolojisi ile donatılmış sistemde en yüksek kontrastta görüntü eldesi mümkündür.

TALOS L120C TEM Cihazı Genel Özellikleri:

  • TEM Line Resolution : 0.204 nm

  • TEM Point Resolution : < 0.37 nm

  • TEM Büyütme Aralığı : 25 – 650 kx

  • Alfa Eğim Açısı (Standard tutucular ile) : -90° to +90°

Geçirimli Elektron Mikroskobu Numune Kabul Şartları için Tıklayınız. Taramalı Elektron Mikroskobu Numune Kabul Şartları için Tıklayınız. Elektron Mikroskobu Laboratuvarı Hizmet Bedelleri Tablosu için Tıklayınız.

×
Arama yapmak için ENTER tuşunu kullanabilir, ▼/▲ tuşları ile önerilenler arasında seçim yapabilir ve ESC tuşu ile kapatabilirsiniz.