Electron Microscopy Laboratory

(FEI) THERMO FISHER SCIENTIFIC QUATTRO S ESEM SCANNING ELECTRON MICROSCOPE

Imaging of micro and nano structures is an indispensable part of R&D studies. The FEG (Field Emission Gun) Scanning Electron Microscope (SEM) in our Electron Microscopy Laboratory allows us to visualize materials in micro and nano dimensions, and elemental compositions can be determined with EDS (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy).

Images can be taken at high resolutions up to 1.0 nm resolution, depending on the sample, and a magnification of 1,000,000x can be achieved with the FEG-SEM system.

Thanks to the navigation camera of the system, "color image of the sample table and all of the stups together with the samples" can be taken. In this way, the determination of the researcher's place of interest takes a very short time and fast results can be given.

The MAPS Correlation feature in our system, makes it possible to correlate images and samples from different microscopes (fluorescent, light microscope, confocal microscope, IR & Raman microscope, etc.). This way, it is possible to visualize the places marked and determined with different techniques with SE and BSE detectors at high magnification and resolution.

Different Analysis Modes:

High Vacuum Mode: Conductive samples, powder samples, thin films, coated insulator samples.

  • 1.0 nm@ 30 kV resolution image can be obtained.

DLow Vacuum Mode: Uncoated insulating samples, polymers, glass samples, etc.

  • 1.3nm@ 30 kV resolution image can be obtained.

ESEM: Biological samples, samples containing moisture.

  • 1.3nm@ 30kV resolution image can be obtained.

(FEI) THERMO FISHER SCIENTIFIC TALOS L120C (TEM) TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE

Thin tissue sections, nano particles, graphene, etc. prepared in ultra microtome system samples can be run with 120kV (TEM) Transmissive Electron Microscope installed in our laboratory. It is possible to obtain images with the highest contrast in the system equipped with C-TWIN Lens technology.

TALOS L120C TEM Device General Features:

  • TEM Line Resolution : 0.204 nm

  • TEM Point Resolution : < 0.37 nm

  • TEM Magnification Range : 25 – 650 kx

  • Alpha Tilt Angle (with standard holders) : -90° to +90°

LABORATUVARIMIZDA YER ALAN ELEKTRON MİKROSKOPLAR HAKKINDA GENEL BİLGİ

(FEI) THERMO FISHER SCIENTIFIC QUATTRO S ESEM TARAMALI ELEKTRON MİKROSKOPU

Mikro ve nano yapıların görüntülenmesi, Ar-Ge çalışmalarının vazgeçilmez bir parçasıdır. Elektron Mikroskopi Laboratuvarımızda bulunan FEG (Alan Emisyon Tabancalı) Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM) ile, malzemelerin mikro ve nano boyutta görüntülenmesi, EDS (Energy Dispersive X-ray Spectroscopy) ile elemental kompozisyonları belirlenebilmektedir.

Laboratuvarımızda bulunan FEG-SEM sistemi ile numuneye bağlı olarak 1.0 nm çözünürlüğe kadar yüksek çözünürlüklerde görüntü alınabilmekte ve 1.000.000x büyütme oranına çıkılabilmektedir.

Sistemin sahip olduğu Navigasyon kamerası sayesinde ‘’numune tablasının ve stupların tamamının, numunelerle birlikte renkli görüntüsü’’ alınabilmektedir. Bu sayede araştırmacının ilgilendiği yerin belirlenmesi çok kısa zaman almakta ve hızlı sonuçlar verilebilmektedir.

Sistemimizde bulunan MAPS Correlation özelliği ile farklı mikroskoplardan (floresan, ışık mikroskobu, konfokal mikroskop, IR & Raman mikroskop vb.) gelen görüntü ve numuneler ile korelasyon imkanı sunulmaktadır. Bu sayede farklı tekniklerle işaretlenip belirlenmiş yerlerin SE, BSE dedektörleri ile de yüksek büyütme ve çözünürlüklerde görüntülenmesi mümkün olmaktadır.
 

Farklı Analiz Modları:

Yüksek Vakum Modu: İletken örnekler, toz örnekler, ince filmler, kaplanmış yalıtkan örnekler.

  • 1.0 nm@ 30 kV çözünürlükte görüntü alınabilmektedir.

Düşük Vakum Modu: Kaplama yapılmamış yalıtkan örnekler, polimerler, cam örnekler vs. - 1.3nm@ 30 kV çözünürlükte görüntü alınabilmektedir.

ESEM: Biyolojik örnekler, nem ihtiva eden örnekler.

  • 1.3nm@30kV çözünürlükte görüntü alınabilmektedir.
     

(FEI) THERMO FISHER SCIENTIFIC TALOS L120C (TEM) GEÇİRİMLİ ELEKTRON MİKROSKOPU

Laboratuvarımızda kurulu 120kV’lık (TEM)Geçirimli Elektron Mikroskobu ile ultra mikrotom sisteminde hazırlanmış ince doku kesitleri, nano partiküller, grafen vb. numuneler çalışılabilmektedir. C-TWIN Lens teknolojisi ile donatılmış sistemde en yüksek kontrastta görüntü eldesi mümkündür.
 

TALOS L120C TEM Cihazı Genel Özellikleri:

  • TEM Line Resolution : 0.204 nm
  • TEM Point Resolution : < 0.37 nm
  • TEM Büyütme Aralığı : 25 – 650 kx
  • Alfa Eğim Açısı (Standard tutucular ile) : -90° to +90°
×

What did you search?